Diretor do BIPM será conferencista do I Congresso Brasileiro de Metrologia das Radiações Ionizantes

O diretor do Departamento de Radiações Ionizantes do Bureau Internacional de Pesos e Medidas (BIPM) José Maria Los Arcos participará como conferencista convidado do I Congresso Brasileiro de Metrologia das Radiações Ionizantes. O evento acontece de 23 a 25 de novembro, no Instituto de Radioproteção e Dosimetria (IRD), unidade da Comissão Nacional de Energia Nuclear (CNEN) no Rio de Janeiro. Arcos irá apresentar três palestras: sobre o Comitê Geral de Pesos e Medidas (CGPM); sobre padronização primária e o Comitê Consultivo para Radiação Ionizante (CCRI) e a respeito da Comissão Internacional sobre Unidades de Radiação e Medidas (ICRU).

Entre os temas a serem discutidos no evento, rastreabilidade e incerteza, disseminação para a rastreabilidade metrológica; condições e práticas utilizando raios X, gama e elétrons; calibração de monitores; produção de radionuclídeos; medições de nêutrons; sistemas de gestão; saúde, indústria e proteção radiológica.

A palestra magna do evento caberá ao presidente da Faperj, Rex Nazaré Alves. Outros conferencistas convidados são Malcolm McEwen, do National Research Center (NRC/ Canadá), e Gunter Drexler, do Laboratório de Ciências Radiológicas da UERJ.

O comitê científico reúne pesquisadores do IRD; Inmetro; Ipen; CDTN; Instituto de Física e Instituto de Eletrotécnica e Energia, ambos da USP; do Observatório Nacional; do Instituto de Biologia da UERJ; do ENEA (Italian National Agency for New Technologies, Energy and Sustainable Economic Development), na Itália; da Agência Internacional de Energia Atômica e do BIPM.

O prazo de submissão de trabalhos foi prorrogado para o dia 5 de setembro. Inscrições e outras informações no site www.cbmri.org.br ou pelo telefone (21) 2532-7373.

FONTE: CNEN
http://www.cnen.gov.br

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